表面界面・薄膜ナノ構造研究会 -表面界面のオペランド・その場計測と回折汎用フレームへの展開-

表面界面・薄膜ナノ構造研究会
講演タイトル 発表者(敬称略)
13:30-13:35 はじめに(5分)
13:35-14:00 回折計測汎用フレームの概要と整備状況(25分) 隅谷和司(JASRI)
14:00-14:30 放射光その場X線回折法のトライボロジー分野への適用(30分) 八木和行(九州大学)
14:30-15:00 固液界面における電気二重層のオペランド観測(30分) 中村将志(千葉大学)
15:00-15:30 SOFC/SOECセルの電極表面反応制御に向けたX線解析とDFT計算(30分) 渡部弘達(立命館大学)
15:30-16:00 燃料電池・水電解用電極触媒の放射光オペランド分析(30分) 内山知貴(京都大学)
16:00-16:30 総合討論(30分)

連絡担当:田尻 寛男 / 連絡先:tajiri(at)spring8.or.jp