X線スペクトロスコピー利用研究会
日時:
2013年1月1日(金)14時45分―16時20分
会場:
キャンパス・イノベーションセンター東京地区 (〒108-0023 東京都港区芝浦3-3-6)
*本研究会は、
SPring-8講習会「産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所構造解析2013」終了後に同会場で行う。
目的:
X線吸収分光法を利用した最新の環境試料/機能性材料の構 造解析に
関する研究を紹介し,研究開発に対するX線吸収分光法の役割の紹介,実験手法
および解析法の普及を試みることを目的とする。
プログラム
14:45-14:50
代表挨拶および活動報告
山本孝(徳島大学)
14:50-15:35
XAFSによる下水汚泥中元 素の化学形態推定
大下和徹(京都大学)
15:35-16:20
XAFSを用いた圧電材料・ 太陽電池材料の構造に関する研究
山添誠司(東京大学)
16:20-16:30
自由討論