X線スペクトロスコピー利用研究会
- 日 程:2019年3月1日(金)14:00-16:50
- 会 場:国際ファッションセンター 11階 Room113
- 主 催:SPRUC X線スペクトロスコピー利用研究会
- 概 要: 放射光を利用したX線スペクトロスコピー(X線吸収分光法、蛍光X線分光法など)は、固体物性、材料・デバイス開発、触媒科学、環境科学、地球科学などの非常に幅広い分野における汎用性の高い研究分析ツールとして、産学界の多くの研究者に利用されている。本研究会では、分野の異なる講師の先生方に、X線スペクトロスコピーの最新技術や実際の材料への応用展開を講演いただき,新しくX線スペクトロスコピー技術を利用したい研究者や解析や測定で困っている研究者にとって新しい知見を得る場を提供するとともに、X線スペクトロスコピーを用いた高度利用研究の推進と拡大を図る。
プログラム
第一部:14:00-15:00
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- 活動報告:
山添 誠司(首都大学東京)
- 1.分光ビームラインの現状と将来計画について:
為則 雄祐(JASRI)
- 2.討論:
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第二部:15:10-16:50
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- 研究の紹介
山添 誠司(首都大学東京)
- 研究紹介
1.「電池解析における放射光利用:最近の話題と産業界からの期待」
伊藤 孝憲、今井 英人(日産アーク)
- 2.「その場観察XAFSによるゼオライト担持触媒の構造と状態の解析」
奥村 和(工学院大学)
- 3.「XAFS法からみる大気-海洋相互作用:大気粒子が海洋生態系および気候に与える影響」
坂田 昴平(国立環境研究所)
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*お問い合わせ先*
山添 誠司(首都大学東京) Email: yamazoe(at)tmu.ac.jp