X線スペクトロスコピー利用研究会

日程: 2022年3月11日(金) 14:30-17:00
会場: オンライン開催(Zoom)https://ritsumei-ac-jp.zoom.us/j/96679100323
申込: 開催前にオンライン参加のためのパスワードをお送りしますので、下記URLより申込みください(定員300名)。
URL:https://forms.gle/wZ39yNvbCiL6LPEL8
主催: SPRUC X線スペクトロスコピー利用研究会
概要: 放射光を利用したX線スペクトロスコピー(X線吸収分光法、蛍光X線分光法など)は、固体物性、材料・デバイス開発、触媒科学、環境科学、地球科学などの非常に幅広い分野における汎用性の高い研究分析ツールとして、産学界の多くの研究者に利用されている。高いエネルギー・時間・空間分解能計測法や他の計測技術と組み合わせた新しい同時計測法といった計測技術の開発や、膨大なデータを高速処理可能な新しい解析技術の開発が進められており、先端的な研究利用が進められている。しかし、それら計測技術や解析技術の利用者への普及は十分ではないのが現状である。本研究会では、分野の異なる講師の先生方に、X線スペクトロスコピーの最新技術や実際の材料への応用展開を講演いただく。本研究会を通して、新しくX線スペクトロスコピー技術を利用したい研究者や解析や測定で困っている研究者にとって新しい知見を得る場を提供するとともに、X線スペクトロスコピーを用いた高度利用研究の推進と拡大を図る。
プログラム
第一部 14:30-15:30
1. 研究会活動報告
2. 分光ビームラインの現状と将来計画についておよび施設報告
第二部 15:40-17:00
3. 研究紹介
・EXAFSのBayesian sparse modeling 赤井 一郎(熊本大学)
・XAFSによるクラスター触媒の電子状態・局所構造解析 山添 誠司(東京都立大学)
4. 討論

*お問い合わせ先*

折笠 有基(立命館大学) Email: orikasa(at)fc.ritsumei.ac.jp