日時：

2010年11月6日（土）午後1時10分〜午後5時半

場所：

中央管理棟一階　上坪講堂

ご案内：

　放射光を利用することにより、高分子の広角・小角X線散乱データの質が高くなっています。それを如何に精度良く、かつ定量的に解析するかが極めて重要ですが、現時点では、必ずしも解析システムが確立しているとは言えません。そのような状況において、計算機シミュレーションを構造解析の力強い支援技術として活用することは極めて有効かつ重要です。今回は、様々の分野における広角および小角X線散乱データ解析技術の発展を眺めてみたいと思います。
　この内容は、特に、企業や大学でX線散乱実験を始めてまだ間がない人によっては非常に有効なものであると信じます。
　御忙しい中、誠に恐縮ですが、是非とも沢山の方にご出席いただけますよう、お願い申し上げます。

プログラム：

午後１時10分〜午後5時半　（各1時間10分ほど）

（１）

名古屋大学大学院理学研究科　秋山　修志
　時計タンパク質の構造変化と小角X線散乱測定による実時間解析（仮題）

（２）

京都大学大学院工学研究科　竹中幹人
　1次元、2次元小角X線散乱パターンに基づく高分子高次組織解析（仮題）

（３）

豊田工業大学　田代孝二
　低分子および高分子結晶のX線構造解析におけるシミュレーション技法

（４）

西野 孝（神戸大学大学院工学研究科）
　放射光の高輝度を利用した高分子の広角X線回折の利用

参加申込は、下記のアドレスまで電子メールでお願いします。