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X線スペクトロスコピー利用研究会
日時：
2012年1月13日（金）15:00-16:15
場所：
キャンパスイノベーションセンター東京地区 1F 国際会議室
東京都港区芝浦3-3-6（JR田町駅 芝浦口徒歩2分）
アクセス：
http://www.isl.or.jp/campusinnovation.html
目的：
触媒のin situ XAFS測定に関する研究会のため
プログラム：
15:00〜15:15
宇留賀朋哉（JASRI）施設報告
15:15〜15:45
奥岡晋一（日本触媒）
XAFS分光法を用いたWacker型均一系触媒の挙動解明
15:45〜16:15
久保田岳志（島根大学）
XAFSによる水素化脱硫触媒活性構造のin-situキャラクタリゼーション