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低温X線回折イメージングによる葉緑体内部構造の非侵襲・高分解能観察に成功(プレスリリース)

公開日
2015年07月13日
  • SACLA BL3
慶應義塾大学理工学部物理学科の中迫雅由教授らの共同研究グループは、コヒーレントX線回折イメージングを生体粒子に適用し、光学顕微鏡や電子顕微鏡による観察では困難な、100ナノメートル(nm)解像度を越える非侵襲イメージング技術を開発してきました。今回、東京理科大学の松永幸大教授らと共同で、この方法をバクテリア葉緑体丸ごとの構造解析に適用し、内部構造を70nmの解像度で明らかにすることができました。

詳しい内容はについては、こちらのリンク(慶應義塾大学)をご覧ください。