SPring-8 研修会
副題/演題 | 初心者を対象とした蛍光XAFS測定 |
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開催期間 | 2005年11月22日から23日まで |
開催場所 | 蓄積リング棟 B共09(BL19B2側室) |
主催 | (財)高輝度光科学研究センター |
形式 | |
分野 | ビームライン・装置(加速器・光源を含む), 物質科学, 産業利用 |
概要 |
SPring-8共用ビームラインを使った初心者を対象とした蛍光XAFS測定研修会を行います。測定には19素子ゲルマニウム半導体検出器の使用を予定しています。微量元素または薄膜のXAFSによる局所構造解析を計画している初心者ユーザーが、産業利用や初心者ユーザーの放射光利用促進を目的とした共用ビームラインであるBL19B2での講義と実習を通して光学系・実験装置の特徴を理解してもらい、適切な実験計画に基づいて有効な実験成果を出してもらうことを目的とします。実習では、酸化物などの蛍光XAFS測定と、得られたデータの簡単な解析のデモンストレーションを行い、また、参加者の持参された試料の測定を行います。 |
URL | http://support.spring8.or.jp/closure/xafs051122.html |
問い合わせ先 |
辻 雅樹、竹内やよい
(財)高輝度光科学研究センター 研究調整部 研究業務課 産業利用推進室担当事務 0791-58-0924 0791-58-0988 support@spring8.or.jp |
最終変更日
2012-12-10 17:12