SPring-8産業利用報告会（第５回）

開催期間

2008年09月18日から19日まで

開催場所

日本科学未来館（東京都江東区青海2-41）

形式

分野

産業利用

概要

趣旨および概要

大型放射光施設SPring-8は昨年供用開始から10年を迎え、今年は次の10年に向けて新たな一歩を踏み出す重要な年であります。このような認識の下、産業界ユーザーを主としたいくつかの専用ビームラインあるいは（財）高輝度光科学研究センター（JASRI）の積極的支援で利用される共用ビームラインでは、今や産業利用が幅広い業種に拡大し、我が国の産業振興と経済の活性化には、なくてはならない存在になってきています。　このように産業界に開かれた共同利用施設へと着実に進展している現状を踏まえ、今年もSPring-8での広汎な産業利用成果の発表を通じて、産業界における放射光の有効性を多くの方に知っていただくとともに、産業界ユーザーの相互交流を目的とする産業利用報告会を9月18、19日に日本科学未来館（東京・お台場）で開催します。本報告会は、産業用専用ビームライン建設利用共同体（サンビーム）、兵庫県（（財）ひょうご科学技術協会：HSTA）、JASRI、さらに今年は蛋白構造解析コンソーシアムも協賛して、それぞれの発表会（報告会）をジョイントした形態で構成しており、口頭発表・ポスター発表および技術交流会を開催します。　最近の産業利用状況と研究成果を知るのに絶好の機会ですので奮ってご参加ください。なお、今回は放射光の最先端の成果をご紹介いただく２件の招待講演も予定しております。２度目の東京開催でもありますので、例年にも増して多数の皆様にご参加いただきたく思います。

主催
　（財）高輝度光科学研究センター（JASRI）
　産業用専用ビームライン建設利用共同体（SUNBEAM CONSORTIUM）
　（財）ひょうご科学技術協会（HSTA）

共催
　SPring-8利用推進協議会

協賛
　蛋白質構造解析コンソーシアム

日時

　2008年9月18日（木） 10：00～17：00；　技術交流会 17：30～19：30
　2008年9月19日（金） 09：30～15：00

会場

　日本科学未来館　（東京都江東区青海2-41）　７階
　　　　アクセス　　http://www.miraikan.jst.go.jp/guide/route/
　口頭発表　　　　７階　HAL みらいCAN ホール
　ポスター発表　　７階　INH　イノベーションホール　

申込方法

申込みは締め切りました

プログラム

９月１８日（１日目）
ポスターは9/18,19の２日間掲示。コアタイムは9/19 10:40-11:30、及び 12:00-12:50

ポスター発表配置図（PDF）

開会　あいさつ
10：00-	平野拓也	（財）高輝度光科学研究センター副会長
	松井純爾	兵庫県放射光ナノテク研究所センター長
	飯島賢二	サンビーム共同体運営委員長（松下電器）
来賓挨拶	林孝浩	文部科学省大型放射光施設利用推進室長
招待講演（I）
10：30-11：30	木下豊彦	（財）高輝度光科学研究センター	SPring-8における軟エックス線および赤外分光の応用
休憩
オーラル発表　サンビーム
12:30-13:10	尾崎伸司	松下電器産業（株）	サンビーム設備更新報告
13:10-13:30	井頭賢一郎	川崎重工業（株）	X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断
13:30-13:50	斎藤吉広	住友電気工業(株)	X線散乱、XAFS、MDシミュレーションを用いた増幅用ファイバの構造解析
13:50-14:10	中野秀之	（株）豊田中央研究所	シリコンナノシートの合成と面内構造解析
14:10-14:30	與名本欣樹	（株）日立製作所	半導体用シリサイド電極の局所構造解析
休憩
オーラル発表　ひょうご
15：00-15：20	道上敦生	日亜化学工業（株）	マイクロビームX線を用いた窒化物半導体結晶評価
15：20-15：40	末広省吾	（株）住化分析センター	放射光による固体高分子形燃料電池の生成水観察
15：40-16：00	高野秀和	兵庫県立大学大学院	BL24XUにおけるマイクロビーム、マイクロイメージングの現状と利用例
16：00-16：20	立石純一郎	（株）アシックス	X線小角散乱法によるくり返し変形ゴム中のフィラー分散状態解析
16：20-16：40	坂本直紀	旭化成（株）	超小角Ｘ線散乱による相分離現象の解析
16：40-17：00	辻淳一	（株）東レリサーチセンター	放射光を用いた薄膜材料のＸＡＦＳ分析
17：30-　技術交流会（7Fレストラン basara）

９月１９日（２日目）

招待講演（II）
9：30-10：30	野村昌治	Photon Factory	PFにおけるXAFSと関連する産業利用
ポスターセッションコアタイム
10：30-12：30	下記参照
オーラル発表　JASRI
時間	発表者	所属	題名	実験責任者	所属
13：00-13：30	長谷川浩	金沢大学	宝石珊瑚の炭酸塩骨格中における微量元素の分布解明 (PDF)	長谷川浩	金沢大学
13：30-14：00	増田勝彦	田辺三菱製薬（株）	放射光粉末回折法を用いた医薬品（固形剤）中の微量主薬の検出と結晶状態解析 (PDF)	増田勝彦	田辺三菱製薬（株）
14：00-14：30	則竹達夫	（株）豊田中央研究所	軽元素系水素化物の結晶構造解析による水素貯蔵材料開発 (PDF)	則竹達夫	（株）豊田中央研究所
14：30-15：00	古澤孝弘	大阪大学	超微細加工レジスト材料における酸発生剤分布の研究	小野寺純一	東京応化工業（株）
閉会　あいさつ
15：00-15：10	吉良爽	（財)　高輝度光科学研究センター理事長

コアタイム　
　奇数番号　10:40-11:30、　
　偶数番号　12:00-12:50
ポスター発表
JASRI ポスター発表

ポスター番号	発表責任者	所属	題名	実験責任者	所属
J01	矢代航	東京大学	MEMSにおける異種材料間直接接合のメカニズムの解明	矢代航	東京大学
J02	古賀智之	（株）豊田中央研究所	微小角入射Ｘ線回折測定によるポリフェニレンサルファイド（PPS）薄膜の（PPS/金属）界面における結晶構造解析	古賀智之	（株）豊田中央研究所
J03	木下優子	日新イオン機器（株）	イオンビーム配向法によるポリイミド膜の分子配向Polyimide molecular orientation induced by ion beam irradiation	木下優子	日新イオン機器（株）
J04	谷澤寿徳	岩手大学大学院	自己組織化単分子膜上に成膜した有機半導体超薄膜の構造評価	吉本則之	岩手大学
J05	吉村博史	横浜市立大学	カーボンナノウォールの成長メカニズムの解明	橘勝	横浜市立大学
J06	近藤大雄	（株）半導体先端テクノロジーズ	硬Ｘ線光電子分光によるカーボンナノチューブビア配線の上部及び下部電極コンタクト構造の解明	粟野祐二	（株）半導体先端テクノロジーズ
J07	西辻祥太郎	京都大学	超小角X線散乱法によるゴムに対するフィラーの分散状態に関する研究	網野直也	横浜ゴム
J08	冨永哲雄	JSR（株）	末端を官能基修飾した高機能ゴム材料の開発(2) (超小角X線散乱（USAXS）によるシリカ分散状態の解析)	冨永哲雄	JSR（株）
J09	小幡誉子	星薬科大学	種々の動物の角層細胞間脂質の構造解析と製剤成分適用による変化	小幡誉子	星薬科大学
J10	竹原孝二	（株）カネボウ化粧品	Ｘ線マイクロＣＴによる毛髪損傷構造の可視化	竹原孝二	（株）カネボウ化粧品
J11	藤井孝太郎	東京工業大学大学院	放射光粉末回折法による粉末医薬品の結晶多形転移のin situ構造解析	寺田勝英	製剤機械技術研究会/東邦大学
J12	高橋永次	大阪大学大学院	シックハウスガス可視化検知のためのベイポクロミック有機結晶の開発	高谷光	大阪大学
J13	長村光造	（財）応用科学研究所	真性歪および有効弾性限を最適化したREBCO Coated Conductorの結晶成長条件の解明	長村光造	（財）応用科学研究所
J14	菖蒲敬久	（独）日本原子力研究開発機構	XRD、SAXS利用による高速炉用フェライト鋼のナノ組織評価	菖蒲敬久	（独）日本原子力研究開発機構
J15	中東重雄	（財）発電設備技術検査協会	放射光CTイメージングによるステンレス鋼中の応力腐食割れ（SCC）き裂の検出	中東重雄	（財）発電設備技術検査協会
J16	中井善一	神戸大学	高強度アルミニウム合金における腐食疲労損傷の発生・成長過程の観察	中井善一	神戸大学
J17	矢加部久孝	東京ガス（株）	Ｘ線応力測定法によるＳＯＦＣ電解質応力のin-situ測定	矢加部久孝	東京ガス（株）
J18	福原幹夫	東北大学	Ni-Nb-Zr系金属ガラスのXAFS解析に基づいた機能性開拓	真壁英一	（株）ＢＭＧ
J19	上村重明	住友電気工業（株）	X線回折用雰囲気制御・焼成炉の開発	飯原順次	住友電気工業（株）
J20	大渕博宣	JASRI	蛍光EXAFS法によるhigh-kゲート絶縁膜中Hf原子の局所構造解析(2)	尾嶋正治	東京大学
J21	榊篤史	日亜化学工業（株）	偏光XAFS測定を用いた半極性InGaN薄膜の局所構造解析	榊篤史	日亜化学工業（株）
J22	野崎洋	（株）豊田中央研究所	リチウムイオン2次電池材料Li [Li_xMn_2-x] O₄ （0<=x<=1/3）の局所構造解析	野崎洋	（株）豊田中央研究所
J23	市川貴之	広島大学	XAFS法による水素貯蔵材料で作用する触媒の状態分析	市川貴之	広島大学
J24	齋藤範三	大阪府立大学	XAFSによる微生物と銀イオンの相互作用についての検討	小西康裕	大阪府立大学
J25	久保田岳志	島根大学	高反応選択性を発現する固体パラジウム触媒の創成と構造解明：光学活性中間体合成のための実用不斉水素化触媒の開発	杉村高志	兵庫県立大学
J26	渡邊恒典	京都大学	共沈法により合成したGa₂O₃–Al₂O₃複合酸化物触媒の構造解析	岩本伸司	京都大学
J51	國澤直美	（株）資生堂	ヒト皮膚角層中の角層細胞間脂質の構造とバリア機能の関係に関する検討	國澤直美	（株）資生堂
J52	清水克哉	大阪大学	高品質グラファイトフィルムからのダイヤモンドフィルム合成のその場観察	村上睦明	（株）カネカ
J53	名越正泰	JFEスチール（株）	微小角入射Ｘ線散乱によるMo添加耐食鋼の極薄腐食生成物層の構造解析	名越正泰	JFEスチール（株）
J54	都竹浩一郎	太陽誘電（株）	微小部赤外分光法による低温焼成セラミックスの焼結状態解析	都竹浩一郎	太陽誘電（株）
J55	渡邉展　伊村宏之	（株）三菱化学科学技術研究センター	白色LED用赤色蛍光体CaAlSiN₃:Euの構造解析	渡邉展伊村宏之	（株）三菱化学科学技術研究センター
J56	尾崎哲也	（株）ジーエス・ユアサコーポレーション	希土類-Mg-Ni系水素吸蔵合金の精密構造解析	綿田正治	（株）ジーエス・ユアサコーポレーション
J57	正木康浩	住友金属工業（株）	XAFSによる高活性光触媒材料の構造解析 XAFS Analysis of Highly Active Photocatalyst Materials	正木康浩	住友金属工業（株）
J58	向出大平	キヤノン（株）	Ｘ線イメージング技術を用いた固体高分子形燃料電池内の水のその場観察	野間敬	キヤノン（株）
J59	吉木昌彦	（株）東芝	硬X線光電子分光法によるGaN表面のバンドベンディングプロファイル評価	吉木昌彦	（株）東芝
J60	金成国	（株）ユー・ジェー・ティー・ラボ	プラズマドーピングにより形成された極浅p+/n接合の化学結合状態に関しての硬X線光電子分光（HX-PES）による研究	金成国	（株）ユー・ジェー・ティー・ラボ

サンビームポスター発表

ポスター番号	発表者	所属	題名
S01	飯原順次	住友電気工業（株）	サンビーム設備更新報告１　ID単色器の液体窒素冷却化
S02	竹村モモ子	（株）東芝	サンビーム設備更新報告２　蛍光X線装置改造
S03	淡路直樹	（株）富士通研究所	サンビーム設備更新報告３　ID８軸回折計の導入と性能評価
S04	稲葉雅之	（株）神戸製鋼所	サンビーム設備更新報告４　BM６軸回折計の導入と性能評価
S05	上田和浩	（株）日立製作所	サンビーム設備更新報告５　マイクロビーム装置の更新と特性評価
S06	野中敬正	（株）豊田中央研究所	サンビーム設備更新報告６　XAFS測定装置の更新
S07	米山明男	（株）日立製作所	サンビーム設備更新報告７　フラットパネル検出器の性能評価と回折マッピングへの応用
S08	出口博史	（株）関西電力	サンビーム設備更新報告８　その場計測用ガス取扱い設備
S09	井頭賢一郎	川崎重工業（株）	X線回折法によるガスタービン用Ni基超耐熱合金のクリープ劣化診断
S10	稲葉雅之	（株）神戸製鋼所	さび生成過程における微量添加元素のin-situ XAFS測定
S11	斎藤吉広	住友電気工業(株)	X線散乱、XAFS、MDシミュレーションを用いた増幅用ファイバの構造解析
S12	飯原順次	住友電気工業(株)	XAFS法を用いたタングステンめっき浴中のイオン状態解析
S13	工藤喜弘	ソニー(株)	リチウムイオン二次電池Sn系負極活物質のXAFS解析
S14	秋保広幸	（財）電力中央研究所	in situXAFSを用いた微量金属の液相反応過程解析
S15	出口博史	関西電力（株）	実用サイズ低温作動固体酸化物形燃料電池セルの残留応力解析
S16	山崎英之	（株）東芝	FEFFによる半導体材料のEXAFS解析
S17	中野秀之	（株）豊田中央研究所	シリコンナノシートの合成と面内構造解析
S18	吉田泰弘	日亜化学工業(株)	Ｌｉイオン二次電池正極材料ＩｎＳｉｔｕＸＡＦＳ測定
S19	松本匡史	日本電気（株）	カーボン担持貴金属微粒子のin situ局所構造解析
S20	今井英人	日本電気（株）	非白金系燃料電池触媒の局所構造解析
S21	與名本欣樹	（株）日立製作所	半導体用シリサイド電極の局所構造解析
S22	土井修一	（株）富士通研究所	新回折装置による１nmＣＭＯＳゲート酸化膜の１２桁反射率測定
S23	野村健二	（株）富士通研究所	新蛍光装置による半導体パターンの１０µμm領域のXAFS測定
S24	尾崎伸司	松下電器産業（株）	松下のサンビーム10年を振り返って
S25	上原康	三菱電機（株）	L特性X線を用いた第6周期元素化合物の状態分析法の検討（２）

ひょうご科学技術協会ポスター発表

ポスター番号	発表者	所属	題名
H01	辻卓也	兵庫県立大学	硬X線Young干渉計を用いた空間コヒーレンス評価法の開発
H02	堀川智之	兵庫県立大学	高平行度Ｘ線マイクロビームによる酸化濃縮ＳＧＯＩウェーハの結晶性評価
H03	奥村健一	兵庫県立大学	X線導波路の研究開発
H04	橋本琢人	兵庫県立大学	結像光学系を用いた大視野高空間分解能X線CT光学系の開発
H05	矢口和彦	富士シリシア化学(株)	シリカの粒子生成と成長について
H06	武居正史	バンドー化学(株)	低温～室温燃結性を有する金属ナノ粒子の開発とナノ粒子形成過程のリアルタイム解析
H07	妹尾政宣	住友ベークライト(株)	放射光を利用したナノ粒子分散系の構造解析
H08	原田雅史	(株)豊田中央研究所	ポリフェニレンサルファイドのナノ構造解析
H09	清瀧元	川崎重工業(株)	モーターサイクル用排ガス浄化触媒の劣化機構の解明
H10	道上敦生	日亜化学工業(株)	マイクロビームX線を用いた窒化物半導体結晶評価
H11	高橋照央	(株)住化分析センター	放射光を用いた固体高分子型燃料電池材料のイメージング
H12	竹田晋吾	兵庫県放射光ナノテク研究所	兵庫県ビームラインBL24XUの紹介
H13	桑本滋生	兵庫県放射光ナノテク研究所	兵庫県ビームラインBL08B2の現状
H14	漆原良昌	兵庫県放射光ナノテク研究所	兵庫県放射光ナノテク研究所内分析室装置の紹介

蛋白質構造解析コンソーシアムポスター発表

ポスター番号	発表者	所属	題名
P01	鈴木健司	蛋白質構造解析コンソーシアム	蛋白質構造解析コンソーシアムについて