主題/内容 |
産業利用に役立つXAFSによる先端材料の局所状態解析2009
|
開催期間 |
2009年01月27日 (火) 09時50分から28日 (水) 14時30分まで
|
開催場所 |
キャンパス・イノベーションセンター 東京地区 1F国際会議室
|
主催 |
財団法人高輝度光科学研究センター(JASRI/SPring-8)
|
協賛者など |
SPring-8利用推進協議会「産業利用研究会」
日本XAFS研究会
SPring-8利用者懇談会「X線スペクトロスコピー利用研究会」
|
形式 |
|
分野 |
産業利用
|
概要 |
概 要 |
: |
XAFS分析の初心者を対象としたフリーの解析ソフト(Athena,Artemis)によるXAFS(X線吸収微細構造)スペクトル解析法の実習を行います。また、放射光と中性子を組み合わせた分析やXANESを利用した解析例など最新のXAFS分析についてご紹介します。 |
日 時 |
: |
2009年01月27日(火)09:50-17:30(技術交流会:18:00-20:00)
2009年01月28日(X線スペクトロスコピー利用研究報告会:15:00-16:30) |
会 場 |
: |
キャンパス・イノベーションセンター 東京地区 1F国際会議室 |
電 話 |
: |
03-4212-6321(代表) |
アクセス |
: |
|
主 催 |
: |
財団法人高輝度光科学研究センター(JASRI/SPring-8) |
共 催 |
: |
SPring-8利用推進協議会「産業利用研究会」 |
後 援 |
: |
日本XAFS研究会
SPring-8利用者懇談会「X線スペクトロスコピー研究会」 |
対 象 者 |
: |
XAFSデータ解析初心者の方 |
募集人数 |
: |
40名程度(定員になり次第、締め切ります。) |
参 加 費 |
: |
無料(ただし、技術交流会参加費:2,000円) |
申込方法 |
: |
こちらをご覧下さい。 |
申込締切 |
: |
2009年01月19日(月)(定員になり次第、締め切ります。) |
連 絡 先 |
: |
(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究業務課(SPring-8講習会事務局)
垣口・原田
TEL:0791-58-0949
FAX:0791-58-0988
URL:http://support.spring8.or.jp/event/XAFS_090127.html
E-Mail:workshops@spring8.or.jp |
|
問い合わせ先 |
(財)高輝度光科学研究センター 研究調整部 研究業務課(SPring-8講習会事務局)
垣口・原田
0791-58-0949
0791-58-0988
workshops@spring8.or.jp
|