時間 |
内容 |
詳細 |
9:00-10:00 |
各自ユーザー手続き |
(参加される方によって手続きの所要時間が異なります。 特にSPring-8に初めてご来所される方は早めに来所頂く必要がありますのでご注意ください。) |
10:00-11:00 |
講義 |
装置/実験の概要説明 |
11:00-12:00 |
実習 |
標準試料を用いた測定のデモンストレーション |
12:00-13:00 |
昼食・休憩 |
13:00- |
実習 |
参加者持ち込み試料による測定実習(各グループ交代で2時間程度)
※使用装置、実験条件
X線エネルギー: 12.4 keV(波長:1.0Å)
回折計:HUBER社多軸X線回折計
検出器:PILATUS 300 K
カメラ長(試料-検出器間距離):約80mm(無機材料)、約175 mm(有機材料)
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対象者:
○ SPring-8 BL46XUでの薄膜試料X線回折測定の課題申請を検討中の方
○ SPring-8 BL46XUでの薄膜試料X線回折測定の課題を2017B第2期に申請中の方
なお、過去にBL46XUにおいてX線回折実験を経験された方(研修会を含む)は、対象外とさせていただきますのでご了承ください。
申込み締め切り:
2017年10月17日(火) 正午 (申込者多数の場合は、締切日以前に応募を終了することがあります。
またこの場合、放射光利用の経験が無い方を優先させて頂き、その他持ち込み試料の種類等を勘案して参加者を決定致しますので、必ずしも先着順にならないことがあります。予めご了承ください)
ユーザー持込試料:
<持ち込み試料の制限は次の通り>
・対象試料と評価
シリコン単結晶基板・酸化物単結晶基板・ガラス基板など平坦な基板上に成膜された薄膜。膜厚は数nm~1µm程度まで。結晶性・配向性・格子定数決定・結晶構造決定(同定)・多形混入・エピタキシャル方位関係評価などを評価対象とします。
・試料数
面内配向が無い試料:1グループ15サンプルまで
面内配向が有る試料:1グループ4サンプルまで
・試料サイズ
5 mm~15 mm角、厚みは5 mm以内。
・安全、法規上問題のないもの
・汚染、破損、紛失しても構わないもの
※測定は室温・大気中での測定に限ります。その他、加熱などの環境制御も行いません。
※持ち込み試料について、申込書に正確にご記載下さい。申込者多数の場合の判断基準の一つにします。
※データ持ち帰り用に、ポータブルハードディスク(空き容量10 GB以上)を持参して下さい。
その他の注意事項:
・本研修会の参加には SPring-8 ユーザー登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。
(必要な書類:利用申込書(様式10)、外来放射線作業者登録申請書(様式5-1)、試料および薬品等持込申請書(様式9))
※参加受付後これらの手続きに関する案内をします。
★ユーザー登録はこちらから
★必要書類のダウンロードはこちらから
・学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。
・参加者への連絡などは全てe-mailで行います。参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。インターネットに接続できる環境をご用意ください。
・研修会への参加は無料です。
・研修会参加者への旅費支給等はありません。
・申込者多数の場合は、締切日以前に募集を終了することがあります。
・申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。
・前日および当日に宿泊が必要な方は、 SPring-8交流施設をご利用いただけます(1室シングル2,000円/泊、ツイン3,000円/泊)。
ただし、交流施設の予約状況によっては、ご利用いただけない場合もありますので、ご了承下さい。
問合せ先
実習担当:(内容等について)
公益財団法人高輝度光科学研究センター (JASRI)
産業利用推進室
担当: 小金澤 智之 e-mail : koganezaspring8.or.jp
事務局:(手続き等について)
公益財団法人高輝度光科学研究センター (JASRI)
利用推進部 普及情報課
担当:辻本
Tel:0791-58-2785 Fax:0791-58-2786
e-mail : jasri-event@spring8.or.jp
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