第49回SPring-8先端利用技術ワークショップ
主題/内容 | 「高感度型X線発光分光・非弾性X線散乱計測が拓く 元素選択的電子状態研究の展望」 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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開催期間 | 2020年01月09日 (木) 10時00分から17時00分まで | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
開催場所 | 名古屋大学 未来材料・システム研究所 共同館Ⅱ RB2-2Fホール | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
アクセス |
〒464-8601 愛知県名古屋市千種区不老町 名古屋大学東山キャンパス案内図 未来材料・システム研究所 共同館Ⅱ(会場)までの案内マップ |
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主催 |
SPring-8ユーザー協同体 (SPRUC)、X線スペクトロスコピー研究会、 機能磁性材分光料究会、高圧物質科学研究会、コヒーレントX線物質科学研究会、 公益財団法人高輝度光科学研究センター(JASRI) |
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形式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
概要 |
近年、世界の大型・中型の第三世代放射光施設の高輝度光源の特性を利用し、X線発光分光 (XES)および非弾性X線散乱(IXS)を用いた電子状態研究が盛んに行われている。XES/IXS は元素選択的な電子状態の研究が可能な手法であり、X線吸収分光(XAS)よりも詳細な情報が得られる。またIXSの一つであるX線ラマン散乱(XRS)を用いることで、軟X線領域に吸収端を有する軽元素のXASの情報を硬X線領域で取得可能である。したがって、窓材を必要とする高圧下の測定や化学反応条件下でのin-situ測定による電子状態研究に非常に有用であり、物理・化学・地球科学などの基礎研究から産業利用に至るまでの幅広い分野での利用が可能である。XES/IXSの問題点は、その信号強度の弱さにあるが、最近ではXES/IXS装置に対する高感度測定を目指した高度化がESRF、APS、NLSL-IIなど世界各国で進められており、微弱信号の高精度測定、微小信号やその変化の明瞭化、時間分解計測など、多くの成果が得られている。今回の研究会では、SPring-8のXES/IXS計測が行われているビームラインBL11XU、BL12XU、BL36XU、BL39XUの光学系やXES/IXS装置の特長を紹介するとともに、それを活かした最先端の利用研究について紹介する。また高感度XES/IXS計測の今後の方向性を、SPring-8アップグレード計画を見据えた視点から目指すべきサイエンスについて議論する。 |
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申込方法 |
募集定員:約50名程度 対象:放射光X線分光研究において、SPring-8の利活用を検討する産学の研究者・技術者。 |
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プログラム |
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問い合わせ先 |
SPring-8先端利用技術ワークショップ事務局
(公財)高輝度光科学研究センター 宮松 0791-58-2785 0791-58-2786 jasri-event@spring8.or.jp |