大型放射光施設 SPring-8

コンテンツへジャンプする
» ENGLISH
パーソナルツール
 

第9回JASRIワークショップ 

主題/内容 「SDD検出器の利用に関するワークショップ」
開催期間 2020年03月04日 (水) 13時30分から16時35分まで
開催場所 SPring-8 中央管理棟・上坪記念講堂
主催 公益財団法人 高輝度光科学研究センター
形式 レクチャー(講演)
概要 広いエネルギー領域のエネルギースペクトルを高計数率で測定可能なシリコンドリフト検出器(以下、SDD)は、特定元素の蛍光X線や回折X線など、測定対象を選別した信号検出が可能であり、 その利用によってS/Nの高い実験が可能である。SPring-8でも、分光から回折まで多様な計測装置で利用されており、今後の計測の複合化や高速化を図る上でも、SDDは重要な役割を果たすと思われる。将来予想される計測の高速化や精度の向上に備えて現状を整理し、今後のSPring-8におけるSDDの開発と利用の方向性を議論することを目的として、本ワークショップを企画した。
プログラム (講演者の敬称略)
13:30-13:35   はじめに  
13:35-14:05   「世界のSDD等半導体エネルギー検出器開発の現状、および今後の技術的可能性」 初井 宇記
14:05-14:20   「Ge/CdTeポイント型検出器を併用した全散乱計測・PDF解析」 尾原 幸治
14:20-14:35   「白色X線とGe-SSDによるX線回折実験について」 丹下 慶範
14:35-14:50   「エネルギー分散型X線回折測定による構造材料の評価」 佐藤 眞直
14:50-15:05 休憩  
15:05-15:20 「走査型顕微XAFS計測における半導体検出器の利用状況」 関澤 央輝
15:20-15:35 「軟X線蛍光MCDの利用状況と計測法開発」 小谷 佳範
15:35-15:50 「蛍光X線分析における半導体検出器の利用状況と今後の課題」 寺田 靖子
15:50-16:05 「磁性薄膜の硬X線MCD測定における多素子SDD検出器の利用」 鈴木 基寛
16:05-16:35 まとめ
問い合わせ先 (公財)高輝度光科学研究センター(JASRI) JASRIワークショップ事務局: 研究支援部 研究調整課 三好忍/糀畑美奈子
0791-58-0833
0791-58-0830
minako@spring8.or.jp
最終変更日 2020-02-18 15:50