※下記プログラムは予定しているもので、参加者の経験等により、内容は変更されます。
時間 |
内容 |
詳細 |
9:30-10:30 |
各自ユーザー手続き |
時間内に各自ユーザー手続きを済ませてから会場にお越し下さい。 |
10:30-12:00 |
講義 |
XAFS分析の概要とXAFS測定方法について |
12:00-13:00 |
昼食 |
13:00- |
講義 |
BL14B2の光学機器およびXAFS測定装置の説明 |
14:00- |
実習 |
参加者持ち込みサンプルを用いた測定実習
(各グループ最大10サンプル、1-2時間程度) |
対象者:主にSPring-8の利用経験が無く、XAFS測定が初中級者の産業界の方(2023A第2期以降に申請を計画している方)
定員:最大2グループ (1グループ2名以内)※1グループでも実施します。 ・持込み試料が無い見学のみでの参加は出来ません。 ・持込み試料について組成・形態・数量等について正確にご記入下さい。申込者多数の場合の判断基準となります。 ・透過法または多素子半導体検出器を使用した蛍光法および転換電子収量法によるXAFS測定に適さないなど実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。 ・これまでに開催した同様の研修会に参加されたことが無い産業界の方を優先します。 ・申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。調整後、全ての申込者に参加の可否について連絡致します。 ・申込順ではありませんのでご注意下さい。(早めにお申し込み頂いた場合でもご参加頂けない場合があります。) ・同じ所属の方が参加を希望される場合、先着2名までとさせて頂きます。定員になり次第募集を締め切ります。
申込み方法:
申込者多数の為2月13日分の募集は終了いたしました。
申込み締め切り: 申込締切:2023年1月16日(月)12:00
ユーザー持込試料: <持ち込み試料の制限は次の通り> - 持ち込み試料は標準試料を含め1グループ5サンプル以内(ただし、1グループの持ち時間は、蛍光法、転換電子収量法の場合、装置の切り換えおよび調整を含め1時間30分程度を予定しています。透過法のみの場合は、1時間程度を予定しています。) - 安全、法規上問題のないもの - 汚染、破損、紛失しても構わないもの ※測定は、室温・大気中で行います。 ※申込者多数の場合、放射光施設関係者の方などは、ご参加頂けない場合があります。 ※実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。 ※実習日以前に、測定試料等について事前に打合せをさせて頂くことがあります。 ※データ持ち帰り用に、USBメモリー(空き容量100MB以上)を持参して下さい。
その他の注意事項: ・本研修会の参加には SPring-8 ユーザー登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。 ※手続きに関する案内は、参加受付後ご連絡差し上げます。 ・学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。 ・参加者への連絡などは全てe-mailで行います。参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。インターネットに接続できる環境をご用意ください。 ・研修会への参加は無料です。 ・研修会参加者への旅費支給等はありません。 ・申込者多数の場合の実習への参加の可否の調整は、当方での調整に一任願います。 ・申込者多数の場合は、締切日以前に募集を終了することがあります。 ・前日および当日に宿泊が必要な方は、 SPring-8交流施設をご利用いただけます(1室シングル2,000円/泊、ツイン3,000円/泊)。 ただし、交流施設の予約状況によっては、ご利用いただけない場合もありますので、ご了承下さい。
|