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2010年前期実施課題2010A一覧:一般研究課題(その9)

S/N 1~50 51~100 101~150 151~200 201~250 251~300 301~350 351~400 401~426

問い合わせ先:利用業務部 TEL 0791-58-0961 E-mail: sp8jasri@spring8.or.jp

成果専有課題は「公開用課題名」を表示

S/N
課題番号
実験課題名
実験責任者
実施時所属
所属大分類
研究分野
実施
シフト
国名
BL
成果専有
/非専有
401
2010A1228
ナノカーボン物質(グラフェン、ナノグラフェン)の赤外分光
松田 一成
京都大学
大学等教育機関
物質科学・材料科学
6
日本
BL43IR
非専有
402
2010A1261
分子凝縮体のスピン液体状態における電荷と格子の役割
山本 貴
大阪大学
大学等教育機関
物質科学・材料科学
18
日本
BL43IR
非専有
403
2010A1286
赤外分光法による低温焼成セラミックス原料の合成過程及び焼結過程の解析
都竹 浩一郎
太陽誘電(株)
産業界
産業利用
12
日本
BL43IR
非専有
404
2010A1357
メカノフュージョン処理による医薬品原薬の成形性改善効果のテラヘルツ放射光を用いた顕微マッピング測定による解明
寺田 勝英
製剤機械技術研究会
国公立研究機関等
産業利用
12
日本
BL43IR
非専有
405
2010A1488
Bl43IRの輝度向上に向けた光学系の再考
池本 夕佳
(財)高輝度光科学研究センター
国公立研究機関等
物質科学・材料科学
9
日本
BL43IR
非専有
406
2010A1045
小角散乱を用いて真核由来翻訳開始制御の離散集合の仕組みの解明
姚 閔
北海道大学
大学等教育機関
生命科学
6
日本
BL45XU
非専有
407
2010A1067
Why are we weaker in old age? A study of human thin filament proteins function using X-ray diffraction
Ochala Julien
ウプサラ大学
海外機関
生命科学
6
スウェーデン
BL45XU
非専有
408
2010A1121
高分子ブロック共重合体が形成するラメラ状ミクロ相分離構造の高圧下での自発的配向メカニズムの解明
櫻井 伸一
京都工芸繊維大学
大学等教育機関
物質科学・材料科学
6
日本
BL45XU
非専有
409
2010A1154
X線溶液散乱法による孔形成タンパク質の多量体化機構の解明
郷田 秀一郎
長崎大学
大学等教育機関
生命科学
6
日本
BL45XU
非専有
410
2010A1177
生理条件下での微小管構造変化の精密解析
上村 慎治
中央大学
大学等教育機関
生命科学
6
日本
BL45XU
非専有
411
2010A1212
ヌクレオチドの結合により誘起されるシャペロン蛋白質の構造変化
岡 俊彦
静岡大学
大学等教育機関
生命科学
6
日本
BL45XU
非専有
412
2010A1230
特定の構成蛋白を欠失した変異ショウジョウバエ飛翔筋からのX線回折像記録
岩本 裕之
(財)高輝度光科学研究センター
国公立研究機関等
生命科学
6
日本
BL45XU
非専有
413
2010A1335
温度変調X線回折法の開発と高分子のスローダイナミクスへの応用
猿山 靖夫
京都工芸繊維大学
大学等教育機関
物質科学・材料科学
6
日本
BL45XU
非専有
414
2010A1578
非晶質薄膜の広角散乱 
松井 高史
富士フイルム(株)
産業界
産業利用
6
日本
BL46XU
専有
415
2010A1820
薄膜の斜入射Ⅹ線回折及びX線反射率 
岡田 一幸
(株)東レリサーチセンター
産業界
産業利用
1
日本
BL46XU
専有
416
2010A1824
硬X線光電子分光によるSiC-MOSFETの界面状態および伝導帯オフセット分析
高橋 直子
(株)豊田中央研究所
産業界
産業利用
2.75
日本
BL46XU
専有
417
2010A1829
非晶質薄膜の広角散乱
松井 高史
富士フイルム(株)
産業界
産業利用
2.875
日本
BL46XU
専有
418
2010A1284
50keV以上の高エネルギーX線を利用したCT装置の開発
上杉 健太朗
(財)高輝度光科学研究センター
国公立研究機関等
ビームライン技術
6
日本
BL47XU
非専有
419
2010A1419
小惑星イトカワから持ち帰られた試料の3次元構造:「はやぶさ」サンプルの初期分
土’山 明
大阪大学
大学等教育機関
地球・惑星科学
12
日本
BL47XU
非専有
420
2010A1464
硬X線光電子分光法によるめっき皮膜/基板界面の化学状態解析
杉山 武晴
(財)高輝度光科学研究センター
国公立研究機関等
化学
6
日本
BL47XU
非専有
421
2010A1495
彗星塵のX線CT観察及び硫黄同位体局所分析に基づく太陽系先史の元素合成過程の解明
中嶋 大輔
東京大学
大学等教育機関
地球・惑星科学
3
合衆国
BL47XU
非専有
422
2010A1524
Direct observation of the correlation between growth front and dislocation structure in recrystallization

Poulsen Henning
デンマーク工科大学
海外機関
物質科学・材料科学
8
デンマーク
BL47XU
非専有
423
2010A1564
硬X線光電子分光法による半導体材料の解析 
佐藤 暢高
東芝ナノアナリシス(株)
産業界
産業利用
6
日本
BL47XU
専有
424
2010A1571
硬X線光電子分光法による薄膜材料の内部界面の状態解析
野田 浩之
富士フイルム(株)
産業界
産業利用
5.875
日本
BL47XU
専有
425
2010A1580
電池用材料の光電子分光分析
辰巳 国昭
(独)産業技術総合研究所
国公立研究機関等
化学
4
日本
BL47XU
専有
426
2010A1583
X線CTを用いた固体酸化物形燃料電池劣化機構の解明
内本 喜晴
京都大学
大学等教育機関
化学
6
日本
BL47XU
専有