2011年前期実施課題2011A一覧：時期指定課題
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| S/N | 課題番号 | 実験課題名 | 実験責任者 | 実施時所属 | 国名 | 所属分類 | 研究分野 | 実施 シフト |
ビームライン | 専有 /非専有 |
| 1 | 2011A2017 | 粉末X線回折による構造解析 | 中村 友騎 | パナソニックエレクトロニックデバイス(株) | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 1 | BL02B2 | 専有 |
| 2 | 2011A2003 | Si-MOSFETの高エネルギーX線被曝評価 | 上田 和浩 | (株)日立製作所 | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 1 | BL08W | 専有 |
| 3 | 2011A2005 | XAFS測定 | 土井 教史 | 住友金属工業(株) | 日本 | 産業界 | 産業利用 | 1 | BL14B2 | 専有 |
| 4 | 2011A1803 | 硬X線光電子分光による透明アモルファス半導体IGZOの価電子帯評価 | 堀内 諭史 | (財)材料科学技術振興財団 | 日本 | 国公立研究機関等 | 物質科学･材料科学 | 2 | BL47XU | 専有 |