BL01B1 19素子Ge検出器
問い合わせ番号
INS-0000000405
蛍光法XAFS用19素子Ge検出器
19素子Ge検出器はエネルギー分機能を持つX線検出器で、極希薄試料や極薄膜試料に対する蛍光法XAFS測定に使用されます。これらの試料においては、散乱X線などのバックグラウンドが高く、目的元素からの蛍光X線だけを分離して測定するため、高いエネルギー分解能を持った検出器が必要となります。
| 検出器素子サイズ | 100 mm2 × 10 mmt × 19 素子 |
| 使用エネルギー領域 | 3.8 ～ 113 keV |
| 測定対象試料 | 希薄試料： 濃度 > 1 ppm 薄膜： 膜厚 > 0.1 nm |
19素子Ge検出器を用いた 薄膜試料に対する斜入射配置蛍光法XAFS測定の様子。 
InxGa1-xN薄膜（8 wt% In）に対するIn K吸収端XAFSスペクトル。測定温度：室温[1]。
エタノール・水混合液中のRhコロイド（80 ppm Rh）に対するRh K吸収端XAFSスペクトル。測定温度：室温[2]。 参考文献
- T. Miyajima, Y. Kudo, K.-Y. Liu, T. Uruga, T. Asatsuma, T. Hino and T. Kobayashi, Phys. Stat. Sol. B 228, 45 (2001).
- M. Harada and T. Yamamoto, SPring-8 User Experimental Report, 6 1 (2001).
最終変更日
2022-05-06 15:22