問い合わせ番号

INS-0000001653

半導体検出器と４軸回折計の概要

 半導体検出器Pilatus 1M CdTeは、ハイスループットかつ高精度な単結晶構造解析測定を実現することを目的として導入されました。高速な読み取り速度（最大フレームレート：500 Hz）、広いダイナミックレンジ（カウンタービット数：20 bits (約106 counts)）を有することから、本研究において、最適な検出器です。装置制御のためのユーザーインターフェースは、予備測定、本測定のための条件の自動入力や、自動温度変化測定への対応など、ユーザーフレンドリー化を追求しています。
 データ処理ソフトは、汎用ラボ装置で用いられる各種ソフト(RapidAuto, CrysAlisPro, Apex等)を活用することができ、汎用ラボ装置で得られたデータと同様に解析することが可能です。また、He/N₂ガス吹き付け低温装置が常設されており20 Kから400 K（コントローラ設定値）での温度可変測定が可能です。さらに、より高温での測定のための高温N2吹付装置も整備しています。本装置を用いた実験では、申請前にビームライン担当者への問い合わせを推奨します。

図１　単結晶構造解析用4軸回折計