大型放射光施設 SPring-8

問い合わせ番号

SOL-0000000932

ビームライン

BL02B2（粉末結晶構造解析）

学術利用キーワード

A. 試料	無機材料
B. 試料詳細	半導体, 結晶性固体, 結晶
C. 手法	Ｘ線回折
D. 手法の詳細	粉末結晶構造解析
E. 付加的測定条件	室温
F. エネルギー領域	Ｘ線（4～40 keV)
G. 目的・欲しい情報	結合状態, 構造解析, 結晶構造, 機能構造相関, 電荷密度

産業利用キーワード

階層1	半導体, 環境, 化学製品, 工業材料
階層2
階層3
階層4	格子定数, 原子間距離, 結晶構造
階層5	回折

分類

A80.12 半導体・電子材料, A80.30 無機材料, A80.40 環境材料, A80.42 エネルギー・資源, M10.20 粉末結晶回折

利用事例本文

Powder diffraction is a powerful technique to study crystal structures. Using this technique, one can measure structural parameters such as lattice parameters, atomic positions, etc of crystalline materials. By using synchrotron radiation one can also obtain charge density level structures closely related with physical properties as well as structural parameters. The figure shows charge density distributions obtained by analyzing diffraction data of a high-efficient thermoelectric material Zn₄Sb₃. These data reveal the fact that the structure contains significant disorder with zinc atoms distributed over multiple positions.

Fig. Charge densities of Zn₄Sb₃.

[ J. G. Snyder, M. Christensen, E. Nishibori, T. Cailat and B. B. Iversen, Nature Materials 3, 458-463 (2004), Fig. 3,
©2004 Nature Publishing Group ]

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原著論文/解説記事

誌名

Nature Materials, 3 (2004) 458.

図番号

3

測定手法

Powder diffraction using synchrotron radiation is a powerful technique to study crystal structures. The technique is applicable to materials with disordered atoms and provides knowledge about the precise disordered structures.

Fig. A large Debye-Scherrer camera.

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BL評価プレゼン資料

測定準備に必要なおおよその時間

1 時間

測定装置

装置名	目的	性能
Large Debye-Scherrer camera	Powder diffraction	Camera radius: 286.48mm, Temperature: 15-1000K

参考文献

文献名
G. J. Snyder et al., Nature Materials, 3 (2004) 458.

関連する手法

Single crystal structure analysis

アンケート

SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている

測定の難易度

中程度

データ解析の難易度

中程度

図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数

2～3シフト