BL04B2 概要
問い合わせ番号
INS-0000000417
ビームラインの概要
BL04B2は37 keV以上の高エネルギーX線を用いた回折、散乱実験を行う目的で建設された。非晶質物質用二軸回折計、二次元フラットパネル検出器（クライオスタット（20 K～室温）、高温電気炉（～1,300 K）、無容器式ガス浮遊炉（1,200~3,200 K）がタンデムに配置されている。
研究分野
- ガラス、液体、アモルファス物質の構造解析
- 61, 113 keVの高エネルギーX線を用いたX線回折
キーワード
- 研究関連
高エネルギーX線回折、非晶質物質 - 装置
二軸回折計、フラットパネル検出器
光源と光学系
光源は偏向電磁石で水平方向の発散は0.73 mradに制限されている。本ビームラインでは、高エネルギー領域でエネルギー分解能よりも強度重視の集光光学系を実現するため、水平1枚振りの湾曲分光結晶を採用した。結晶のブラッグ角は３ °に固定されいるため、結晶面を変更することによりエネルギーを変更することができる。現在では、Si 111（37.8 keV, 113.4 keV）およびSi 220（61.4 keV）が利用できる。光源から46 m下流に設置された結晶の曲率半径は320 mから430 mまで変更できることから、集光点は実験ハッチ内の分光結晶から10-15 mの間で調整ができる。
ビームラインの模式図
- 試料位置でのX線
エネルギー Si (111) : 37.8, 113.4 keV
Si (220) : 61.4 keVエネルギー分解能 Δ E/E = 10-3 （モノクロメータから15 m下流位置でのデータ、モノクロ上流でのビームサイズ : 0.2 (縦) × 4 (横) mm2) フォトンフラックス 37.8 keV 非集光時 : 2.2 × 1010 (photons/sec/1 × 1 mm2 @100 mA), 集光時 : 7.1 ×1011
61.7 keV 非集光時 : 3.4 × 109, 集光時 : 9.2 × 1010集光点でのビームサイズ 37.8 keV : 0.220 mm, 61.7 keV: 0.375 mm (モノクロ上流でのビームサイズ : 0.2 (H) × 4 (W) mm2) - 参考文献
M. Isshiki, Y. Ohishi, S. Goto, K. Takeshita and T. Ishikawa Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A:(2001) 467-8, 663-666
実験ステーション
文献検索
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（公財）高輝度光科学研究センター(JASRI)
〒679-5198 兵庫県佐用郡佐用町光都1丁目1-1
Phone : 0791-58-2750
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下野 聖矢
（公財）高輝度光科学研究センター(JASRI)
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Jo-chi Tseng
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