BL04B2 二軸回折計
問い合わせ番号
INS-0000000418
非晶質物質用二軸回折計
Q)を高い散乱ベクトルQまで測定し、高実空間分解能の実空間関数を得ることを目的として設計された。高温の実験を容易にするために、耐荷重のある試料ステージを備えた水平型の2θ軸を採用し、高エネルギーX線(E > 50keV)の利用により偏光因子の影響を受けない低角度の実験を実現した。
- 表1 非晶質物質用二軸回折計の可動部
2θ軸 2main -10 ∼ 150° Δθ = 0.001 2sub -120 ∼ 10° Δθ = 0.001 試料ステージ θ -180 ∼ 180° Δθ = 0.001 X ± 10 mm Y ± 10 mm Z ± 10 mm Rx ± 3° Ry ± 3° コリメータ Xc ± 10 mm Zc ± 10 mm Rcy ± 10° Rcz ± 180° Xt ± 15 mm - 表2 利用可能なX線のエネルギーと到達可能なQ値
X線のエネルギー (keV) 到達可能なQ (Å-1) 37.8 keV (Si 111) 0.1 ∼ 22 61.7 keV (Si 220) 0.16 ∼ 36 113.3 keV (Si 333*) 0.3 ∼ 40 *Si 111の3次光を利用した場合
Fig. 1. 非晶質物質用二軸回折計 [1]
(a) イオンチャンバー, (b) 入射スリット,
(c) θ軸, (d) 真空チャンバー,
(e) ビームストップ, (f) 受光スリット,
(g) 2θ軸, (h) Ge半導体検出器
Fig. 3. 二軸回折計用高温 (∼ 1200°C) 電気炉
参考文献
- S. Kohara, K. Suzuya, Y. Kashihara, N. Matsumoto, N. Umesaki, and I. Sakai, Nucl. Instr. and Meth. A 467-468, 1030 (2001).
- S. Kohara and K. Suzuya: Nucl. Instr. and Meth. B, 199 (2003) 23.
最終変更日
2006-02-10 17:00