大型放射光施設 SPring-8

問い合わせ番号

SOL-0000001156

ビームライン

BL04B2（高エネルギーＸ線回折）

学術利用キーワード

A. 試料	無機材料
B. 試料詳細	結晶性固体
C. 手法	Ｘ線回折
D. 手法の詳細	単結晶構造解析
E. 付加的測定条件	低温（〜液体窒素）
F. エネルギー領域	Ｘ線（4～40 keV)
G. 目的・欲しい情報	結晶構造

産業利用キーワード

階層1	化学製品, 工業材料, その他
階層2
階層3
階層4	結晶構造
階層5	回折

分類

M10.10 単結晶回折

利用事例本文

The use of high-energy x-rays makes it possible to perform structure analyses on small-size single crystals containing complicated molecules. The use of high-energy x-rays leads to a collection of high-precision diffraction data with smaller absorption effects. Figure shows the structure of an anion that contains twelve heavy atoms.

Fig.　The structure of [β-SiW₁₂O₄₀]^4- anion.

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原著論文/解説記事

誌名

Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York, NY, pp 225-232 (2002)

図番号

測定手法

The use of high-energy x-rays allows us to perform structural analysis on small-size single crystals. This method reveals the complicated structure of single crystals. The use of high-energy x-rays can collect diffraction data with small absorption. Hence, this method is essential when the sample contains heavy atoms.

画像ファイルの出典

図なし

測定準備に必要なおおよその時間

8 時間

測定装置

装置名	目的	性能
Weissenberg camera	to get diffraction pattern	38 keV

参考文献

関連する手法

アンケート

SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている

測定の難易度

中程度

データ解析の難易度

中程度

図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数

4～9シフト