BL16B2 概要

問い合わせ番号

INS-0000000454

ビームラインの概要

本ビームラインは隣接するBL16XUとともに13企業グループで構成する「産業用専用ビームライン建設利用共同体」が産業利用の目的で建設したビームラインで、2本のビームラインは一体のハッチ構造をしております。BL16B2は、広いエネルギー範囲でのX線吸収分光（XAFS）、X線トポグラフィ、X線イメージングなどにより、各種の産業用材料の高精度な評価を行うことを目的としています。単色器は可変傾斜型であり、反射面を切り替えて、産業界で特に重要なチタンの吸収端エネルギーをカバーした4.5 keV～113 keVのX線が利用できます。高周波除去及び集光用にX線円筒ミラーを配置しており、実験に応じてミラーをビームパスからはずすことができます。標準的な使用においては、4.5 keV～13.5 keVでのエネルギー領域に対して高次（3次）光除去ができます。ミラーの挿入に伴うビームパスの変化に対応し、傾斜架台によってビームパスを上下するようになっています。

研究分野

二次電池、燃料電池、触媒、鉄鋼、半導体、光・磁気デバイス、構造材料など各種産業用材料の評価

キーワード

研究分野
XAFS, トポグラフィ、反射率、蛍光X線分析、X線イメージング
装置
25素子半導体検出器、ライトル検出器、転換電子収量検出器、X線回折装置、シンチレーション検出器、二次元検出器、X線イメージングカメラ、冷凍機、その場観察用ガス取り扱い設備（BL16XUと共用）、グローブボックス（BL16XUと共用）

光源と光学系

サンプル位置でのX線

エネルギー範囲	4.5 ∼ 113 keV
エネルギー分解能	ΔE/E ∼ 10^-4
光子数	∼ 10¹⁰ph/s
ビームサイズ	~ 0.1(H) × 0.1(V) (with mirror) ~ 40(H) × 2(V) (without mirror)

ビームラインのレイアウト

BL16XUおよび BL16B2ビームライン俯瞰写真

実験ステーション

実験ハッチ内には、大型定盤と6軸X線回折装置が設置されている。

大型定盤（図1）
- 各種の実験（XAFS、トポグラフィ、X線イメージング等）が実施可能
- XAFS測定では、透過法、蛍光法、転換電子収量法を用いることが可能
- 蛍光XAFS法ではライトル検出器と、希薄元素用に25素子SSD検出を利用可能
- その場観察用ガス取り扱い設備により、可燃性あるいは毒性ガス環境に試料を置いた状態でXAFS測定が可能
- X線イメージング用に、X線CCDカメラ、CMOSカメラ、フラットパネル検出器を準備
  
  図1　大型定盤と25素子SSD検出器
X線回折装置（図2）
- 6軸回折計が設置され、X線回折、X線反射率、微小角入射X線散乱等の実験に利用
- NaI（Tl）シンチレーション検出器、YAP（Ce）シンチレーション検出器、一次元検出器（Mythen）、二次元検出器（PILATUS 100K、PITATUS 300K）を利用することが可能
  
  図２Ｘ線回折装置