PDP用蛍光体の局所構造解析
問い合わせ番号
SOL-0000001404
ビームライン
BL19B2（X線回折・散乱 II）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 絶縁体・セラミックス, 結晶 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | XAFS, EXAFS |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（直線）, 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 結合状態, 局所構造, 構造変化, 機能構造相関, 元素分析（微量） |
産業利用キーワード
| 階層1 | ディスプレイ |
|---|---|
| 階層2 | PDP、FED |
| 階層3 | 蛍光体 |
| 階層4 | 局所構造 |
| 階層5 | XAFS |
分類
A80.30 無機材料, M40.10 XAFS
利用事例本文
本事例ではプラズマディスプレイパネル（PDP)用青色蛍光体BaMgAl10O17（BAM)についてEu-LⅢ吸収端におけるXAFS測定を行い、EXAFSを解析しました。EXAFS振動をフーリエ変換することによって目的元素の局所構造（近接元素種、近接原子の配位数、近接原子までの距離）に関する情報が得られます。このデータから、PDP用青色蛍光体BAMは熱処理によって発光中心であるEu近傍の酸素との距離が短くなることと還元雰囲気下で再処理することによって発光中心の局所構造が復活することが明らかになりました。
PDP用青色蛍光体BAMのEuの動径構造関数
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
本間作
測定手法
EXAFSは、測定試料を構成する元素の局所構造を調べられるユニークな測定方法です。この方法は、微量元素を含んだ結晶、非晶体、液体など様々な物質に適用でき、それらの物質に含まれる微量元素の配位元素種、配位数、距離などの局所構造に関する情報を得ることができます。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
2 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| XAFS測定装置 | XAFSスペクトルの取得 | 3.8keV-72keV |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| X線吸収分光法－XAFSとその応用－太田俊明編 |
関連する手法
DAFS、微小角入射X線散乱、磁気EXAFS
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト