Bulk electronic states of Ce compounds observed by resonant photoemission spectroscopy
問い合わせ番号
SOL-0000000944
ビームライン
BL25SU（軟Ｘ線固体分光）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 結晶性固体, 結晶 |
| C. 手法 | 光電離、二次電子 |
| D. 手法の詳細 | 光電子分光 |
| E. 付加的測定条件 | 超高真空, 低温（〜液体ヘリウム） |
| F. エネルギー領域 | 軟Ｘ線（<2 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 電子状態、バンド構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 電子状態 |
| 階層5 | XPS |
分類
M40.40 軟Ｘ線分光, M50.10 光電子分光
利用事例本文
Resonant photoemission spectroscopy is a powerful tool to investigate electronic states of solids. Partial density of states can be extracted from valence electronic states by using the resonant condition. High energy resolution makes it possible to observe detailed electronic structures in the vicinity of the Fermi level. The figure shows the Ce 4f photoelectron spectra measured for CeRu2Si2 and CeRu2 tuning the excitation energy at the Ce 4f absorption edge. It is revealed that the spectral shapes are quite different between the samples with different Kondo temperatures.
[ A. Sekiyama, T. Iwasaki, K. Matsuda, Y. Saitoh, Y. Oniki and S. Suga, Nature 403, 396-398 (2000), Fig. 3,
©2000 Nature Publishing Group ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Nature vol.403 p396(2000)
図番号
Fig.3
測定手法
Photoemission intensity is resonantly enhanced when the excitation energy is tuned at an absorption edge of an element in a sample. 2p edges of transition metal and 3d edges of rare earth elements are typical in the energy range of BL25SU. Measurements are carried out in a UHV condition. Samples should have electric conductivity to avoid charging. Clean surfaces of the samples are obtained by cleaving or fracture in the UHV chamber.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
2 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Photoemission Spectrometer (PES) | resonant photoemission spectroscopy | high resolution |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Nature 403, 396 (2000) |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト