ゼオライト細孔内でのPdクラスターの生成過程の観察
問い合わせ番号
SOL-0000001524
ビームライン
BL28B2(白色X線回折)
学術利用キーワード
A. 試料 | 無機材料 |
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B. 試料詳細 | 金属・合金 |
C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
D. 手法の詳細 | XAFS, EXAFS, XANES |
E. 付加的測定条件 | 高温(〜500度), 時分割(比較的遅い) |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 | 化学状態, 局所構造, 構造解析, 構造変化 |
産業利用キーワード
階層1 | 環境, 化学製品 |
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階層2 | 触媒 |
階層3 | |
階層4 | 原子間距離, 局所構造, 化学状態 |
階層5 | XAFS |
分類
A80.34 触媒化学, M40.10 XAFS
利用事例本文
本事例では水素雰囲気下、昇温過程におけるH-ZSM5ゼオライトにPdを担持した試料についてエネルギー分散型XAFS法(DXAFS)を用いてPd K吸収端XAFS測定を行い、EXAFSスペクトルを解析しました。エネルギー分散型XAFS法は秒以下の時間分解能でXAFS測定することができるので、化学反応過程における物質の局所構造変化を観察するのに有効です。このデータから、安定な6核のPdクラスターが生成することが明らかになりました。
図 水素雰囲気下、昇温過程におけるPd/H-ZSM5のPdの動径分布と配位数の変化
[ K. Okumura, R. Yoshimoto, T. Uruga, H. Tanida, K. Kato, S. Yokota and M. Niwa, The Journal of Physical Chemistry B 108, 6250-6255 (2004), Fig. 5(b), 7(a),
©2004 American Chemical Society ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Journal of Physical Chemistry B 108(2004)6250
図番号
5(b),7(a)
測定手法
エネルギー分散型XAFSは、物質の動的な構造変化を調べられる有効な測定方法です。この方法は、化学反応過程や物理現象過程における物質に適用でき、物質の形成過程や反応中間体に関する情報を得ることができます。
図.エネルギー分散型XAFS装置(ブラッグ配置、12keV以下のエネルギー領域を測定する場合)
図.エネルギー分散型XAFS装置(ブラッグ配置、12keV以上のエネルギー領域を測定する場合)
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
測定準備に必要なおおよその時間
6 時間
測定装置
装置名 | 目的 | 性能 |
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エネルギー分散型XAFS装置 | 時間分解XAFS測定 | 7keV-40keV,数十ミリ秒-数秒 |
参考文献
文献名 |
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Journal of Physical Chemistry B 108(2004)6250 |
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下