Switching of X-ray photon helicities at kHz range
問い合わせ番号
SOL-0000001128
ビームライン
BL29XU（理研 物理科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 磁性体 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 磁気散乱, MCD, LD |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（円、楕円）, 時分割（比較的遅い） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | スピン・磁性構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 記憶装置 |
|---|---|
| 階層2 | HD、MO |
| 階層3 | 磁性層, 磁気ヘッド, スピンバルブ膜 |
| 階層4 | 磁化 |
| 階層5 | XMCD, 磁気散乱, 磁気コンプトン散乱, PEEM |
分類
A80.14 磁性材料, M25.10 磁気散乱, M40.30 磁気吸収
利用事例本文
In this solution, a galvano optical scanner was applied to switching of X-ray photon helicities at kHz range. The scanner was used to oscillate a diamond crystal of X-ray phase plate quickly and accurately. This technique greatly enhances switching frequency to 2 kHz, from 100 Hz by a existing piezo method. Additionally, degree of circular polarization (PC) is nearly 100%. The technique can be combined with a lock-in detection to improve experimental accuracy in X-ray magnetic circular dichroism spectroscopy or X-ray magnetic scattering experiments.
Fig. Degree of circular polarization (PC) as a function of the helicity switching frequency.
[ M. Suzuki, N. Kawamura and T. Ishikawa, Review of Scientific Instruments 74, 19-22 (2003), Fig. 4,
©2003 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Rev. Sci. Instrum. 74, 19 (2003).
図番号
Fig. 4
測定手法
kHz photon helicity switching is performed by oscillating a diamond phase plate crystal using an optical scanner. The figure shows a photograph of a optical scanner mounting a phase plate crystal.
Fig. An optical scanner mounting a diamond phase plate crystal.
[ M. Suzuki, N. Kawamura and T. Ishikawa, Review of Scientific Instruments 74, 19-22 (2003), Fig. 1,
©2003 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Rev. Sci. Instrum. 74, 19 (2003).
図番号
Fig. 1
測定準備に必要なおおよその時間
2 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Optical scanner | Oscillating a diamond phase plate crystal | Maximum frequency 2 kHz |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| M. Suzuki, N. Kawamura, and T. Ishikawa, Rev. Sci. Instrum. 74, 19 (2003). |
関連する手法
modulation spectroscopy, helicity modulation technique, XMCD, X-ray magnetic circular dichroism, X-ray magnetic scattering, X-ray magnetic reflectometry
アンケート
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト