X線回折顕微法
利用事例本文
X線回折顕微法はオーバーサンプリングしたX線回折強度パターンから試料像を再生することのできるユニークな手法です。この手法を用いることで、 試料の結晶化を要さず、電子密度分布を測定することができます。
図に示すのは、大腸菌試料からの回折強度パターンと二次元再生像です。
図 大腸菌からのX線回折強度パターン
図 X線回折強度パターンから再生した大腸菌の像
[ J. Miao, K. O. Hodgson, T. Ishikawa, C. A. Larabell, M. A. LeGros and Y. Nishino, Proceedings of National Academy of Science of the USA 100, 110-112 (2003), Fig. 1A, 2,
©2003 National Academy of Science ]
学術利用キーワード
A. 試料 | 無機材料, 有機材料, 生物・医学 |
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B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 絶縁体・セラミックス, 結晶性固体, 非晶質、ガラス, 生体組織、細胞系等, 生体材料 |
C. 手法 | X線回折 |
D. 手法の詳細 | コヒーレント散乱, 位相計測, スペックル |
E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測, 三次元画像計測(CT等), 高分解能画像計測(顕微鏡) |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 | 構造解析 |
産業利用キーワード
階層1 | 製薬 |
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階層2 | ドラッグデザイン, 食品, 環境物質 |
階層3 | 生体 |
階層4 | |
階層5 | 回折, イメージング |
問い合わせ番号
SOL-0000001535
最終変更日
2019-11-21 16:52