マイクロ秒時分割測定を目的としたパルスＸ線生成用シャッターシステムの構築
問い合わせ番号
SOL-0000001621
ビームライン
BL40XU（高フラックス）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 膜, 生体（in vitro）, 生体高分子、非結晶, 蛋白質 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 小角散乱, 広角散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測, 時分割（マイクロ秒）, ポンプ・プローブ |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 分子構造, 局所構造, 構造解析, 構造変化, 機能構造相関, 機能発現 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 製薬, その他 |
|---|---|
| 階層2 | 製剤 |
| 階層3 | 薬物 |
| 階層4 | 高次構造 |
| 階層5 | 回折, 小角散乱, SAXS |
分類
A80.90 その他, M20.10 小角散乱, M20.20 中角散乱
利用事例本文
本研究はマイクロ秒時分割測定を行うため、できるだけ短いパルス幅のＸ線を生成できるようシャッターシステムの開発を行った例である。図に示すようなシャッターシステムを作成し、2種類の動作の異なるシャッターを組み合わせることにより、最短で6秒のパルス幅を持つＸ線の生成を可能にした。またこのシステムを高速時分割実験に応用するため、ソフトウェアを開発しパルスジェネレータ等を用いたコントロールシステムを構築した。
画像ファイルの出典
BL評価レポート
ページ
10
測定手法
40XUは高いフラックスのX線の利用に特化されたビームラインである。もともとのフラックスが高いので、短いパルス幅に切り出しても散乱・回折実験に利用できる強度を得ることができる。このことを利用しより時間分解能の高い時分割実験が可能になる。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
12 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| 高速シャッターシステム | 短パルスX線の生成 | 回転シャッターとガルバノ型シャッターとの組み合わせにより最短パルス幅6マイクロ秒が実現可能。 |
参考文献
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上