Emittance measurement
問い合わせ番号
SOL-0000001100
ビームライン
BL47XU（マイクロCT）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 反射、屈折 |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 |
産業利用キーワード
| 階層1 | |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | |
| 階層5 |
分類
利用事例本文
We presented a method of using crystal optics to measure the emittance of the X-ray source. Two perfect crystals set in (++) configuration work as a high-resolution collimator. The phase-space diagram (i.e. beam cross-section and angular distribution) could be determined without any assumptions on the light source. The measurement was done with the hard X-rays of 18.5 keV and 55 keV from an undulator beamline, BL 47XU, of SPring-8. The figures show the experimental setup. The horizontal emittance of the X-ray beam was estimated to be about 7.6 nmrad, close to the designed electron beam emittance of the storage ring (7 nmrad). The upper limit for the vertical emittance of the electron beam, 0.14 nmrad, was obtained. The instrumental functions, such as the scattering by filters and windows along the beamline and the slight bent of the crystal planes of the monochromator are included in these measured results.
[ Y. Kohmura, Y. Suzuki, M. Awaji, T. Tanaka, T. Hara, S. Goto and T. Ishikawa, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 452, 343-350 (2000), Fig. 2, 6, 9,
©2000 Elsevier Science Publisher ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 452, 343-350 (2000)
図番号
2,6,9
測定手法
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
7 日
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Kouzu Diffractometer | Aligning crystals | |
| Hitachi Denshi X-ray camera | high resolution detector |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Y.Kohmura et al., Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 452, 343-350 (2000) |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上