Emittance measurement
問い合わせ番号
SOL-0000001703
ビームライン
BL47XU（マイクロCT）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 反射、屈折 |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 |
産業利用キーワード
| 階層1 | |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | |
| 階層5 |
分類
利用事例本文
Ｘ線光源のエミッタンスを計測するために、結晶光学系を用いる方法を考案しました。(++)配置の二つの完全結晶を角度成分のアナライザーとして用いました。X線ビームの断面積と角度広がりを、光源についての仮定無しに決定できます。下図に、実験配置を示します。BL47XUでの水平方向のエミッタンスの測定結果は7.6nmradで、蓄積リングの電子ビームのエミッタンスから予想される値7nmradに近い値を示しました。垂直方向の電子ビームのエミッタンスの上限は、0.14nmradでした。フィルターや窓材による散乱や、分光器結晶の僅かな湾曲等の影響が、装置関数として含まれていると考えられます。
[ Y. Kohmura, Y. Suzuki, M. Awaji, T. Tanaka, T. Hara, S. Goto and T. Ishikawa, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 452, 343-350 (2000), Fig. 2, 6, 9,
©2000 Elsevier Science Publisher ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 452, 343-350 (2000)
図番号
2,6,9
測定手法
電子ビームのエミッタンスは、アンジュレーターからの硬X線放射の固有回折限界よりも大きいため、アンジュレーターからの硬X線放射を用いると、電子ビームのエミッタンスを精度良く決定できます。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
7 日
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| 神津製作所回折計 | 結晶のアライメント | |
| 日立電子ビジコン | 画像計測 |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Y.Kohmura et al., Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 452, 343-350 (2000) |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上