N3 支援テーマ名:新機能ナノ材料の光電子分光、磁気円二色性測定（BL25SU）

• 研究内容　　軟X線による表面ナノ電子構造および磁区構造解析、光電子顕微鏡による電子構造二次元マッピング測定
• 対象材料　　フラーレン、超伝導体、磁性体、半導体等の新規ナノ材料
• 測定手法　　光電子分光法、磁気円二色性、光電子顕微鏡

Ｃｏナノドットの軟Ｘ線磁気円二色性

自己組織形成によるナノ磁性体規則配列は高密度磁気記憶媒体や磁気抵抗デバイスなどに応用が期待されています。左下図は周期7nm、 2原子層厚さのコバルトドット正方配列です。BL25SUにおける軟Ｘ線磁気円二色性測定では、通常の磁化測定装置が苦手とするこのような 表面ナノ磁性体の磁化状態分析を行うことができます。右下図はコバルトナノドットにおける磁気円二色性スペクトルの一例です。

2次元層状結晶FexNbS2の角度分解光電子分光

角度分解光電子分光によって固体中電子のエネルギーバンドの運動量分散を調べることができます。また同時に、物性の起源の解明に 有力な情報となるフェルミ面構造を調べることにもなります。図に実際にBL25SUで行われたFexNbS2における角度分解光電子分光実験の 測定結果を示します。FexNbS2はNbS2の層状結晶構造の層間にFe原子が制御された濃度で挿入されたナノ物質です。この実験ではFeの 濃度依存性が、フェルミエネルギー（結合エネルギー=0）直下のバンド構造に顕著に観測されました。

主な測定装置