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研究分野別 目次 |
1.エレクトロニクス |
2.新規物質、表面・ナノ |
3.エネルギー材料 |
4.環境関連物質評価 |
5.基盤技術開発 |
5 基盤技術開発 |
5.1 ナノ構造イメージング等 |
SPELEEMによるSi上へのInSb直接ヘテロ成長過程の研究 |
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越川 孝範 大阪電気通信大学 エレクトロニクス基礎研究所 |
Nano-XAFS実験技術の開発:硬X線を用いた光電子顕微鏡(HXPEEM)の新たな利用法 |
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小嗣 真人 広島大学 放射光科学研究センター |
5.2 元素変換 |
X線マイクロビームを用いたPd多層膜表面微量元素分布と金属組織の相関把握 |
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岩村 康弘 三菱重工業株式会社 |
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