研究分野別　目次
支援テーマ別　目次

1.エレクトロニクス
　 情報ストレージ

2.新規物質、表面・ナノ
　 結晶・ナノサイズ効果

3.エネルギー材料

4.環境関連物質評価

5.基盤技術開発
5 基盤技術開発
5.1　ナノ構造イメージング等
ZnOエピタキシャル薄膜を用いたX線ルミネッセンスホログラフィー ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,160KB
林　好一　　　　　　　　東北大学　金属材料研究所
BL39XUにおける走査型XMCD顕微鏡の開発と性能評価 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,668KB
高垣　昌史　　　　　　　高輝度光科学研究センター
光電子顕微鏡を用いたパーマロイ-マイクロクロスの磁区観察 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,207KB
小嗣　真人　　　　　　　広島大学　放射光科学研究センター
光電子顕微鏡を用いた硬X線イメージング ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,334KB
小野　寛太　　　　　　　高エネルギー加速器研究機構
SPELEEMによるナノ構造試料観察の立ち上げ、およびナノ材料研究への応用 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,287KB
越川　孝範　　　　　　大阪電気通信大学
5.2　分子操作、原子励起、イオン化等
Si:KVV共鳴オージェ電子-光イオン同時計数法を用いた分子操作の研究：
　　　　　　　エネルギー分解したSi:ls光電子-光イオン同時計数スペクトルに現れたサイト選択解離		 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,344KB
長岡　伸一　　　　　　愛媛大学　理学部
異極像結晶LiTaO3におけるUV光によるTaLX線スペクトルへの影響 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,501KB
伊藤　嘉昭　　　　　　京都大学　化学研究所
Fe Kβ'X線発光スペクトルの起源 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,425KB
伊藤　嘉昭　　　　　　京都大学　化学研究所
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