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支援テーマ別 目次 |
1.テーマN1〜 |
2.テーマN4〜 |
3.テーマN7〜 |
4.テーマN10〜 |
| テーマN7 蛍光X線分析法による微量元素マッピング （BL37XU） |
| In蛍光X線を用いたGaInN量子井戸の結晶評価 |
 2,283KB |
| 宮嶋 孝夫 ソニー株式会社 |
| アトピー性皮膚炎における微量元素の動態の解析 |
1,181KB |
| 白川 太郎 京都大学大学院 医学研究科 |
| μ-XRF及びμ-XAFSを用いた太陽電池用多結晶シリコン基板内の 各種不純物の分布と微細領域における結合状態に関する研究 |
1,931KB |
| 大下 祥雄 豊田工業大学 工学部 |
| X線マイクロビームを用いたPd多層膜表面微量元素分布と金属組織の相関把握 | 3,453KB |
| 岩村 康弘 三菱重工業株式会社 |
| μ-XRFおよびμ-XAFSを用いた環境浄化植物モエジマシダにおけるヒ素蓄積機構の解明 | 2,265KB |
| 中井 泉 東京理科大学 理学部 |
| Detection of Ge XAFS in Ge-Sb-Te optical
memory alloys using a high-resolution fluorescence analyzer system |
1,936KB |
| Fons, Paul 産業技術総合研究所 |
| テーマN8 核共鳴散乱法による局所構造と電子状態の研究 （BL11XU） |
| 次世代磁気記録メディアPtFe合金薄膜のフォノン |
1,224KB |
| 角田 頼彦 早稲田大学 理工学部 | |
| 119Sn核共鳴散乱法を用いた金属ナノ薄膜における局所電子スピン分極の検出 |
1,513KB |
| 壬生 攻 京都大学 低温物質科学研究センター | |
| テーマN9 電気化学における固/液界面構造解析 （BL14XU） |
| XAFS study of structural changes under
hydrostatic pressure in Ge-Sb-Te Alloy used in near-field recording with nanometer size marks |
1,424KB |
| Kolobov, Alexander 産業技術総合研究所 |
| 表面X線散乱法による異種金属修飾Au単結晶表面上での 自己組織化単分子構造のその場追跡 |
1,366KB |
| 魚崎 浩平 北海道大学大学院 理学研究科 |
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