テーマN4 新規ナノ材料の精密結晶構造評価 (BL02B2)
Pd/Ptナノ粒子の水素吸蔵に伴う構造変化 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,252KB
山内 美穂       九州大学大学院 理学研究院
Clystanographic study of silica-mesoporous crystals and
      nano-structured materials synthesized within the periodically arranged pores
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,271KB
寺崎 治        ストックホルム大学 アルレニウス研究所
化学ドープしたC60、C120およびC60ナノウィスカーの構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,348KB
谷垣 勝己       東北大学大学院 理学研究科
多孔性金属錯体細孔内の単分子鎖高分子の構造決定 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,330KB
北川 進        京都大学大学院 工学研究科
固体トロポロンコバルト錯体へのメタノール吸着機構の構造的解釈 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,671KB
長谷川 美貴     青山学院大学 理工学部
金属ナノ融点降下を利用したクラスターサイズ制御と物性研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,186KB
三谷 忠興       北陸先端科学技術大学院大学 材料科学研究所
芳香族および脂肪族炭化水素を吸蔵した
            trans-1,4-シクロヘキサンジカルボンサン銅の結晶構造
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,915KB
川路 均        東京工業大学 応用セラミックス研究所
ナノ細孔を有する配位高分子の超プロトン伝導機構の解明 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,590KB
北川 宏        九州大学大学院 理学研究院
β菱面体晶ボロンヘのVドープによる金属結合-共有結合転換の観測 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,531KB
木村 薫        東京大学 新頒域創成科学研究所
粉末X線回折法によるペンタセン誘電体の
            retro Diels-Alder 反応による有機半導体結晶の生成過程の解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,758KB
高原 淳        九州大学 先導物質化学研究所
 
テーマN5 X線マイクロビームによる顕微分光、トモグラフィー (BL47XU)
DVDディスク薄膜材料の高分解能硬X線光電子分光 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,373KB
松永 利之       株式会社 松下テクノリサーチ
硬XPSを用いた12CaO・7Al2O3の価電子帯の電子状態観察 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出3,506KB
細野 秀雄       東京工業大学 フロンティア創造共同研究センター
硬X線光電子分光法によるMIS構造のバンドアライメント評価 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1,796KB
吉木 昌彦       株式会社 東芝
硬X線光電子分光による
            金属ゲート/高誘電率ゲート絶縁膜/シリコン多層構造の深さ方向分析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,032KB
財満 鎭明       名古星大学大学院 工学研究料
テーマN6 微粒子及びナノ薄膜の電子分光 (BL27SU)
軟X線光電子分光による4H-SiC(000-1)面上酸化膜の評価 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,344KB
服部 健雄       武蔵工業大学 工学部
軟X線吸収発光分光法による酸窒化膜/Si界面電子状態のサイト選択的観測 軟X線発光・吸収分子による薄膜シリコン酸窒化膜界面の電子構造研究1,393KB
山下 良之       東京大学 物性研究所
ln(Sn)/Cu(001)表面における相転移現象のSPELEEMによる観察 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,658KB
有賀 哲也       京都大学大学院 理学研究科
SPELEEMによるSi上へのInSb直接ヘテロ成長過程の研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,287KB
越川 孝範       大阪電気通信大学 エレクトロニクス基礎研究所
強磁性及び反強磁性薄膜とNiO界面におけるX線光電子顕微鏡による磁区ドメイン観察 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,287KB
奥田 太一       東京大学 物性研究所
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